記者3月21日從中國科學技術大學獲悉，該校物理學院張斗國教授課題組，提出并實現了一種基于矢量光場調控原理的動量空間偏振濾波器件。該濾波器件安裝于傳統無標記光學顯微鏡后，可采集到單個納米尺度物體的高對比度、高信噪比光學顯微圖像。研究成果日前在線發表于綜合性學術期刊《美國國家科學院院刊》。
單個納米尺度物體精準表征，在基礎科學研究與工業應用方面均具有重要意義。但得到廣泛應用的無標記光學顯微成像技術，難以對單個納米尺度物體進行高對比度、高信噪比成像，更難以實時記錄其演化過程和運動軌跡。
為了解決這個問題，張斗國課題組設計并實現了一種動量空間偏振濾波器件，它可在動量空間進行矢量場偏振調控，大幅度過濾、抑制各類背景噪聲。只有單個納米尺度物體的光散射信號能透過該濾波器件，被探測器采集到，從而實現了單個納米尺度物體的高對比度、高信噪比的成像探測。
記者3月21日從中國科學技術大學獲悉，該校物理學院張斗國教授課題組，提出并實現了一種基于矢量光場調控原理的動量空間偏振濾波器件。該濾波器件安裝于傳統無標記光學顯微鏡后，可采集到單個納米尺度物體的高對比度、高信噪比光學顯微圖像。研究成果日前在線發表于綜合性學術期刊《美國國家科學院院刊》。
單個納米尺度物體精準表征，在基礎科學研究與工業應用方面均具有重要意義。但得到廣泛應用的無標記光學顯微成像技術，難以對單個納米尺度物體進行高對比度、高信噪比成像，更難以實時記錄其演化過程和運動軌跡。
為了解決這個問題，張斗國課題組設計并實現了一種動量空間偏振濾波器件，它可在動量空間進行矢量場偏振調控，大幅度過濾、抑制各類背景噪聲。只有單個納米尺度物體的光散射信號能透過該濾波器件，被探測器采集到，從而實現了單個納米尺度物體的高對比度、高信噪比的成像探測。
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